磁性金屬基材超薄涂層厚度測(cè)量-涂層測(cè)厚儀
表面處理中有一項(xiàng)非常重要的工藝，即在磁性金屬上面涂鍍層，以達(dá)到防腐、抗氧化、裝飾等目的，對(duì)于測(cè)試磁性金屬基材上面的普通涂層厚度，使用的設(shè)備大家都不陌生，但是，今天主要介紹的是超薄涂層厚度測(cè)量的方法，以及高精度的涂層測(cè)厚儀。
在進(jìn)行金屬表面涂層處理的時(shí)候，涂層的厚度，非常關(guān)鍵。涂層過薄，防腐、抗氧化的作用不理想，或者是有效時(shí)間短，不能最大程度上發(fā)揮作用；涂層過厚，又會(huì)造成材料的浪費(fèi)，經(jīng)濟(jì)上也會(huì)加重企業(yè)涂層處理方面的成本。
超薄涂層厚度測(cè)量的方法：
涂層處理，針對(duì)于不同的材料，對(duì)涂層厚度要求是不一樣的，幾微米到幾百微米不等，甚至有些會(huì)超過1000微米。
1、對(duì)于涂層厚度超過50um的，市面上高精度的儀器即可滿足，涂層厚度在1000um以內(nèi)，精度好點(diǎn)的是讀數(shù)的±3%+2um。
2、對(duì)于涂層厚度小于50um的，特別是20um以下的，大多數(shù)的儀器精度都是沒有辦法滿足的，由于涂層本身就非常薄，對(duì)于設(shè)備的精度要求很高，林上的LS225就是非常理想的選擇。
超薄涂層厚度測(cè)量使用的設(shè)備：
林上LS225涂層測(cè)厚儀采用數(shù)字探頭技術(shù)，數(shù)字信號(hào)處理直接在探頭上完成，探頭不易受到干擾并且提供很好的測(cè)試精度。即使溫度變化也不會(huì)影響測(cè)量，讀數(shù)仍保持穩(wěn)定。具有很高的測(cè)量精度±（2%讀數(shù)+0.3μm）和重復(fù)性≤±（0.8%讀數(shù)+0.1μm），可用于測(cè)量10μm以下的超薄涂鍍層厚度測(cè)試。
林上作為十幾年專業(yè)生產(chǎn)光學(xué)儀器的品牌廠家，所有產(chǎn)品承諾30天無理由退換貨。所研發(fā)生產(chǎn)的LS225涂層測(cè)厚儀，更是為涉及到超薄涂層厚度測(cè)量的用戶解決了燃眉之急，性價(jià)比也是同層次的產(chǎn)品里面比較高的。